生產(chǎn)過程控制被認為是太陽能產(chǎn)業(yè)的一個關(guān)鍵的成功因素。不過，這僅僅是有助于取得成功的有利條件的一部分：為了全面優(yōu)化生產(chǎn)并降低成本，生產(chǎn)商必須采取進一步措施以保證只加工無缺陷的材料。為了切實避免耗材的浪費和缺陷產(chǎn)品時間上的浪費，需要對每一個相關(guān)硅片的特性進行全面的在線檢測。YIELDMASTER PL – Wafer是ISRA VISION和GP Solar推出的新一代非接觸式光致發(fā)光檢測系統(tǒng)，為太陽能硅片提供高精度、高速度的質(zhì)量保證。憑借其先進的技術(shù)特點，該系統(tǒng)可以準確預測基于原始硅片分析的電池效率。由于只需投資于加工良好的硅片，操作者大大降低了生產(chǎn)成本。

　　YIELDMASTER PL – Wafer采用光致發(fā)光技術(shù)。與電致發(fā)光系統(tǒng)相反，檢測和效率測量是無觸點進行的。這樣就避免了電子接觸裝置引起的裂痕、破損和其他常見缺陷。該創(chuàng)新性方案憑借基于光致發(fā)光的完整區(qū)域（最大范圍170 mm x 170 mm）的均質(zhì)照明，提供了缺陷檢測和分類的最佳性能。YIELDMASTER PL – Wafer能可靠地識別包括晶體缺陷、邊緣雜質(zhì)和背景污染在內(nèi)的各種缺陷。特殊影像過濾技術(shù)能夠自動識別臨界和非臨界缺陷。與傳統(tǒng)的光致發(fā)光法相比，顯像時間縮短到八分之一。此外，不需要專門的硅片定位。這樣，每小時可檢測3,600多個硅片。

　　YIELDMASTER PL – Wafer出色的效率預測功能進一步顯示了該系統(tǒng)的創(chuàng)新能力。在單晶硅片或多晶硅片的測量結(jié)果基礎(chǔ)上，生產(chǎn)商可以預估成品電池的效率。每一個樣本都基于可能的缺陷和預測的效率水平，接受自動計算的質(zhì)量分級。劣質(zhì)硅片被自動識別并淘汰出生產(chǎn)線，從而極大地節(jié)省了成本。當不合格材料被持續(xù)阻止進入下一道工序時，產(chǎn)量和產(chǎn)品性能得到極大提高，因為資源只被用于無缺陷的產(chǎn)品。該技術(shù)有助于識別可能通過進一步加工而循環(huán)到合格部件的某些硅片。該系統(tǒng)連續(xù)記錄檢測數(shù)據(jù)，使生產(chǎn)商可以根據(jù)記錄的質(zhì)量識別出劣質(zhì)材料并從供應商那里得到補償。

　　操作靈活性是YIELDMASTER PL – Wafer系統(tǒng)的另一重要優(yōu)點。其模組化的結(jié)構(gòu)便于與新的、現(xiàn)有的生產(chǎn)線集成在一起。循環(huán)時間一般少于1秒鐘。

　　ISRA和GP Solar創(chuàng)新的光致發(fā)光檢測技術(shù)為太陽能產(chǎn)業(yè)提供了全面的硅片質(zhì)量評估的有效方法。同時，生產(chǎn)過程得到優(yōu)化，效率達到最高。這為最低的持有成本、增強的產(chǎn)品質(zhì)量和最高的產(chǎn)量提供了新的機會。

　　光致發(fā)光 (PL – Wafer) 檢測系統(tǒng)是一項可應用于電池生產(chǎn)的先進技術(shù)，它能發(fā)現(xiàn)肉眼無法看到的臨界缺陷，即裂紋和微米級裂紋。現(xiàn)在的發(fā)光檢測系統(tǒng)提供的檢測率較低，且需要電池的電接觸以識別斷珊。