中科院光電技術研究所光束控制重點實驗室任戈課題組在相位差技術研究上取得新進展：首次提出了疊層空間調制相位差技術，通過對成像系統的光瞳平面進行小孔疊層掃描獲得含有相位差異的圖像，然后利用算法從中提取出成像系統的像差并復原圖像。該技術在波前測量和圖像復原等方面有很大潛在應用價值。相關結果發表于近期的IEEE Photonics Technology Letters。
　　相位差技術集波前測量和圖像復原于一體，對目標沒有特定的要求，不僅適用于點目標，而且適用于擴展目標，并且具有光路簡單、不存在非共路誤差等優點，已成為國際上的研究熱點。傳統的相位差技術利用焦面和離焦面產生差異圖像，要求CCD采樣頻率必須滿足奈斯奎特采樣定律。對于欠采樣系統，像素重疊現象將導致子圖像的許多高頻成分被誤采樣為低頻成分，從而極大影響相位差技術的測量精度。
　　該研究首次提出疊層空間調制相位差的概念，將相位差法推廣至欠采樣系統。利用小孔光闌對大口徑光瞳面進行空間限制，使采集的子圖像滿足采樣定律。小孔在掃描過程中相互交疊，交疊部分提供相同相位信息，非交疊部分提供相位差異。這樣由小孔疊層掃描得到的一組子圖像都是過采樣的，在算法探測過程中不會出現錯誤的頻率信息，從而極大提高了相位差法對欠采樣系統的測量精度。
　　該工作得到了國家自然科學基金委的資助。

疊層空間調制相位差原理圖

像差探測和圖像復原結果